16+
Регистрация
РУС ENG

Первая международная конференция/выставка «MEGATECH-2009». Новые технологии в промышленной диагностике

02.09.2009
Приглашаем всех желающих принять участие в первой международной выставке – конференции Megatech 2009, которая пройдет 25 сентября 2009 г. в Москве, в Выставочном центре "Инфопространство". Выставка посвящена новым технологиям в промышленной диагностике.

В течение конференции вы сможете прослушать доклады, подготовленные ведущими отечественными и зарубежными специалистами, в четырех различных секциях: Неразрушающий контроль, разрушающий контроль и испытание материалов, диагностика в энергетике, мобильные диагностические комплексы.

Спонсором секции 2 - «Pазрушающий контроль, испытание материалов» является ООО «Мелитэк».
ООО «Мелитэк» поставляет, внедряет и выполняет сервисное обслуживание оборудования по направлениям:
- оптико-эмиссионные и рентгеновские анализаторы химического, минерального и структурного состава материалов фирмы Bruker (Германия);
- материалографическое оборудование фирмы Struers A/S (Дания) для подготовки образцов материалов;
- оптические микроскопы фирмы Olympus (Япония);
- твердомеры и автоматически интегрированные системы фирмы EMCO-TEST (Австрия);
- универсальные испытательные машины фирмы Walter+ Bai Ag (Швейцария)
- оборудование для измерения в нанометровом диапазоне фирмы Nanovea (США).

На выставке Megatech 2009 у вас появится уникальная возможность посмотреть в действии оборудование, предлагаемое ООО «Мелитэк» и другими компаниями.

Отправить на Email

Похожие Свежие Популярные

Войти или Зарегистрироваться, чтобы оставить комментарий.